OrCAD PSpice Designer Plus

       升级到OrCAD PSpice Designer Plus，您将获得 PSpice高级分析仿真引擎。该引擎与核心的PSpice仿真功能协同工作，能显著提升设计性能、良率、成本效益和可靠性。其提供的灵敏度分析、蒙特卡洛分析、电应力分析、优化器和参数绘图仪等高级仿真工具，专门用于应对电子元件制造偏差带来的挑战。这些工具让您能深入洞察电路性能，超越基本的功能验证。

PSpice高级分析功能

📊敏感性分析：识别关键器件

1.核心作用： 确定对电路性能目标（如带宽）影响最大的元件参数。
2.工作原理： 通过模拟元件制造公差变化，评估其对电路行为的影响及相对重要性，并生成最坏情况结果。
3.核心价值： 识别对良率影响最大的敏感器件，指导精准管控公差（收紧敏感器件公差保性能/良率，放宽非敏感器件公差降成本），优化成本与良率权衡。

⚙️优化器：智能微调设计

1.核心作用： 自动微调设计参数，快速找到满足性能目标和约束（如输出电压、截止频率、波形匹配）的最佳元件值。
2.核心价值： 大幅加速设计迭代，替代低效的试错法。

⚠️电应力分析：预防现场故障

1.核心作用： 识别因功耗、温升、电压/电流超标或二次击穿而承受过应力的元件。
2.工作原理： 将仿真结果与元件安全工作极限比对，标记超标参数。工作原理： 将仿真结果与元件安全工作极限比对，标记超标参数。
3.核心价值： 预防由过应力元件导致的后期现场故障，提升产品长期可靠性。

🎲蒙特卡洛分析：预测统计良率

1.核心作用： 统计模拟元件在公差范围内随机组合变化时的电路行为。
2.核心价值： 预测量产良率（合格电路板百分比），识别可能导致高废品率的问题。若良率过低，可结合敏感性分析定位需收紧公差的器件（如用1%替换10%公差件），或对非关键器件放宽公差以降低成本。

📈参数绘图仪：高效参数扫描与分析

1.支持与OrCAD FPGA系统规划器的协同设计流程，可快速导入FPGA器件数据创建原理图符号。
2。核心价值： 在仿真后快速分析扫描结果，以表格或图表形式直观呈现，加速设计评估。

可扩展平台：OrCAD开放架构

OrCAD提供开放式、可扩展的设计平台，集成Tcl/HTML5编程基础设施，支持：
1.定制开发： 创建或增强功能、设计能力和流程；
2.深度集成： 通过Tcl接口编程访问用户界面、命令、仿真数据和算法；
3.功能扩展： 开发原生环境不具备的自定义功能，灵活扩展PSpice能力。